A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
略語正式名日本語
D-AlgorithmD-algorithmDアルゴリズム
D2TDesign-to-TestDesign-to-Test
D3TInternational Workshop on Defect & Data-Driven Testing欠陥およびデータ駆動型テスティングに関する国際ワークショップ
DAMDesign-Aware Manufacturing設計を考慮したマニュファクチャリング
DATAInternational Workshop on Defect and Adaptive Test Analysis欠陥と適応型テスト解析に関する国際ワークショップ
Data ColumnData Columnデータカラム(列)
DATEDesign, Automation and Test in Europe欧州設計自動化テスト
Datu Genpatsu De Hontou Ni Yoino Desuka?金子和夫「脱原発」で本当に良いのですか?
dBdecibelデシベル
DBMDigital Boundary Moduleディジタル境界モジュール
DBTDefect Based Test/Testing欠陥ベーステスト
DCDependable Computingディペンダブルコンピューティング
DCDigital Compareディジタル比較器
DCCSDependable Computing and Communications Symposiumディペンダブルコンピューティングと通信に関するシンポジューム
DC研究会Dependable Computing Technical Group電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
DebugDebugデバッグ
Deceptive Read Disturb Fault/Deceptive Destructive Read FaultDeceptive Read Disturb Fault/Deceptive Destructive Read Faultディセプティブ読出しディスターブ故障/ディセプティブ破壊型読出し故障
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits, 2nd EditionManoj Sachdev
Jose Pineda de Gyvez
ナノメトリックCMOS VLSI回路に対する欠陥指向テスティング,第2版
Delay FaultDelay Fault遅延故障
Delta IDDQDelta IDDQ差分IDDQ
Denshi Rikkoku西村吉雄電子立国はなぜ凋落したか
Dependability Courseディペンダビリティ講座福本 聡
Dependability in Electronic Systems:
Mitigation of Hardware Failures, Soft Errors, and Electro-Magnetic Disturbances
Nobuyasu Kanekawa
Eishi H. Ibe
Takashi Suga
Yutaka Uematsu
電子システムにおけるディペンダビリティ:
ハードウェア障害,ソフトエラー,電磁外乱の緩和技術
Dependable Systems米田友洋,梶原誠司,土屋達弘ディペンダブルシステム
Design GaiaDesign Gaiaデザインガイア
Design of Dependable Computing SystemsJean-Claude Geffroy and Gilles Motetディペンダブルコンピューティングシステムの設計
Deviation FaultDeviation Faultデビエーション故障
DFDelay Fault遅延故障
DFDDesign For Debugデバッグ容易化設計
DFDDesign for Diagnosis故障診断考慮設計
DFHTDesign for Hardware Trustハードウェアトラスト考慮設計法
DFMData Fail Memoryデータフェイルメモリ
DFMDesign for Manufacturabilityマニファクチャビリティ考慮設計
DFM&YInternational Workshop on Design for Manufacturability & Yieldマニファクチャビリティと歩留りに関する国際ワークショップ
DFRWorkshopb on Design for Reliability信頼性考慮設計に関するワークショップ
DFR分布Decreasing Failure Rate Distributionディーエフアール分布
DFTDesign for Test/Testabilityテスト容易化設計
DFTInternational Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI SystemsVLSIにおける欠陥および故障トレランスに関する国際シンポジューム
DFYDesign for Yield歩留り考慮設計
DIBDevice Interface Boardデバイスインターフェイスボード
DIMMDual Inline Memory Moduleデュアルインライン・メモリモジュール
DIPDual Inline Packageデュアルインラインパッケージ
Distributed CheckpointingDistributed Checkpointing分散型チェックポインティング
DLDefect Levelディフェクトレベル
DNMDynamic Noise Margin動的ノイズマージン
DNSA WorkshopWorkshop on Dependability of Network Software Applicationsネットワークソフトウェア応用のディペンダビリティに関するワークショップ
Domino EffectDomino Effectドミノ効果
DOS TrojanDenial-of-Service Trojanサービス妨害型トロイの木馬
Double CaptureDouble Captureダブルキャプチャ
DPPMDefective Parts Per Million百万個当りの不良チップ数
DPSDevice Power Supplyデバイス電源
DRData Registerデータレジスタ
DRFData Retention Faultデータリテンション故障
DRVWWorkshop on Design for Reliability and Variability信頼性とバラツキに関するワークショップ
DS-LFSRDual Speed LFSR2重スピードLFSR
DSNInternational Conference on Dependable Systems and Networksディペンダブルシステムとネットワークに関する国際会議
DTP(1)/DTP(2)Dual Tape Carrier Package Type1/Type2デュアルテープキャリアパッケージタイプ1/タイプ2
DUTDevice Under Test被テストデバイス
略語正式名日本語

※本文中の社名および商品名は、各社の商標および登録商標です。
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