A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
略語正式名日本語
EB TesterElectron Beam Tester電子ビームテスタ
ECCError-Correcting Code誤り訂正符号
ECSEvolving Critical System発展型クリティカルシステム
EDS/EDXEnergy Dispersive X-ray Spectrometryエネルギー分散型X線分光分析
EDSFairElectronics Design and Solution Fair電子設計とソリューションフェア
EDTEmbedded Deterministic Testイー・ディー・ティー
EELSElectron Energy Loss Spectroscopy電子線エネルギー損失分光法
EIAJElectronic Industries Association of Japan日本電子機械工業会
Elements of STIL, Principles and Applications of IEEE Std. 1450G. Maston, T. R. Taylor, and J. N. VillarElements of STIL, Principles and Applications of IEEE Std. 1450
ELFEarly-Life Failure初期不良
EMElectromigrationエレクトロマイグレーション
EMD ATPGEmbedded Multi-Detect ATPG埋込み型多重検出ATPG
Emerging NanotechnologiesMohammad Tehranipoorエマージング ナノ技術
Enhanced March C-Enhanced March C-エンハンス型マーチC-
ENIACElectronic Numerical Integrator And Calculatorエニアック
EOLEnd of Line(配線レイアウトの)終端
EPICEnding Piracy of Integrated Circuits集積回路に対する著作権侵害防止
Equivalent FaultEquivalent Fault等価故障
ERDEmerging Research Devices新探求素子
ERMEmerging Research Materials新探求材料
ESLEffective Series Inductance/Equivalent Series Inductance実効直列インダクタンス/等価直列インダクタンス
ESREffective Series Resistance/Equivalent Series Resistance実効直列抵抗/等価直列抵抗
ETCompressionETCompressionイー・ディー・コンプレッション
eTesting植野真臣
長岡慶三
共編
eテスティング
ETSEuropean Test Symposium欧州テストシンポジューム
Exit1-DRExit1-DRExit1-DR状態
Exit1-IRExit1-IRExit1-IR状態
Exit2-DRExit2-DRExit2-DR状態
Exit2-IRExit2-IRExit2-IR状態
External LFSRExternal LFSRエクスターナルLFSR
EXTESTEXTEST instructionEXTEST命令
略語正式名日本語

※本文中の社名および商品名は、各社の商標および登録商標です。
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