A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
略語正式名日本語
F2B/F2FFace-to-Back/Face-to-Faceフェイスツーバック/フェイスツーフェイス
FAFast Abstractファーストアブストラクト/研究速報
Fail Safe
Fail Soft
Fail Stop
Fail Safe
Fail Soft
Fail Stop
フェイルセイフ
フェイルソフト
フェイルストップ
False PathFalse Pathフォールスパス
False Write Through FaultFalse Write Through Faultフォールスライトスルー故障
FAN AlgorithmFANout-Oriented Test Generation Algorithmファンアルゴリズム
Fault Analysis Technical Course故障解析技術講座佐藤 康夫
Fault ModelFault Model故障モデル
Fault-Tolerant SystemsIsrael Koren and C. Mani Krishnaフォールトトレラントシステムズ
FBBForward Body Biasフォーワード基板バイアス
FBGAFine Pitch BGAファインピッチBGA
FCFault Coverage故障カバレージ
FEFault Efficiency故障検出効率
FEPFront End Processesフロントエンドプロセス
Fermat's Last Theoremサイモン・シン著
青木薫訳
フェルマーの最終定理
FIBFocused Ion Beam収束イオンビーム
FITFailures In Timeフィット
FITForum on Information Technology情報科学技術フォーラム
FLGAFine Pitch LGAファインピッチLGA
FPFrame Processorフレームプロセッサ
FPGAField Programmable Gate Arrayフィールド・プルグラマブル・ゲートアレイ
Free Run ClockFree Run Clockフリーランクロック
FTFault Toleranceフォールトトレランス
FTFinal Test最終テスト
FTC研究会FTC研究会エフ・ティー・シー研究会
Fukuoka Institute of System LSI Design IndustryFukuoka Institute of System LSI Design Industry福岡システムLSI総合開発センター
Functional TestFunctional Test機能テスト
略語正式名日本語

※本文中の社名および商品名は、各社の商標および登録商標です。
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