A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
略語正式名日本語
IBISInput output Buffer Information Specificationアイビス
IBM Sytem/360IBM Sytem/360IBMシステム360
IC SocketIC SocketICソケット
ICTIn-Circuit Testインサーキット・テスト
IDCODEIDCODE instructionIDCODE命令
IDDQQuiescent Power Supply Current/Quiescent Current Measurement静止電源電流/アイ・ディー・ディー・キュー測定
Idempotent Coupling FaultIdempotent Coupling Faultべき型カップリング故障
IEEEInstitute of Electrical and Electronics Engineersアイ・トリプル・イー
IEEE Computer SocietyIEEE Computer SocietyIEEEコンピュータソサイエティ
IEEE P1687Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor DeviceIEEE 1687標準化提案
IEEE Std 1149.1Standard Test Access Port and Boundary Scan ArchitectureIEEE 1149.1標準
IEEE Std 1149.4Mixed-Signal Test BusIEEE 1149.4標準
IEICEThe Institute of Electronics, Information and Communication Engineers電子情報通信学会
IFAInductive Fault Analysis帰納的故障解析
IFA-9/IFA-13Inductive Fault Analysis-9 Pattern/Inductive Fault Analysis-13 Pattern帰納的故障解析パターン-9/13
IFR分布Increasing Failure Rate Distributionアイエフアール分布
IGOIntra-Gate Open Fault Modelゲート内オープン故障モデル
IGRIntra-Gate Resistive Open Fault Modelゲート内抵抗性オープン故障モデル
IJTAGInternal JTAG内部JTAG
ILD TDDBInter-Layer Dielectric TDDB層間絶縁膜経時破壊
ILGAInterstitial LGAインタースティシャルLGA
ILLIAC IVILLIAC IVイリアックフォー
Illinois ScanIllinois Scanイリノイスキャン
IMPInterface Message Processorインターフェイスメッセージプロセッサ
Impedance of Power Distribution NetworkImpedance of Power Distribution Network電源インピーダンス
Input cell/Internal cellInput cell/Internal cellInputセル/Internalセル
Instruction ColumnInstruction Column命令カラム(列)
Integrated Circuit Design浅田邦博集積回路設計
Internal LFSRInternal LFSRインターナルLFSR
INTESTINTEST instructionINTEST命令
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and OptimizationErik LarssonSoCテスト設計と最適化入門
Introduction to Mixed Signal IC Test and Measurement, AnMark Burns and Gordon W. Robertsミックスト信号ICのテストと計測入門
Inversion Coupling FaultInversion Coupling Fault反転カップリング故障
IPSJInformation Processing Society of Japan情報処理学会
IRInstruction Register命令レジスタ
IR-DropIR-Dropアイ・アール・ドロップ
IR-OBIRCHInfrared Optical Beam Induced Resistance Changeアイアール・オバーク(レーザ加熱による抵抗変動効果)
Irreducible PolynomialIrreducible Polynomial既約多項式
ISCASInternational Symposium on Circuits and Systems回路とシステムに関する国際シンポジューム
ISOInternational Organization for Standardization国際標準化機構
ISVMISVM電流印加電圧測定
ITCInternational Test Conference国際テスト法会議
ITRS
ITWG
International Technology Roadmap for Semiconductors

International Technology Working Group
国際半導体ロードマップ

国際技術ワーキンググループ
IUAIC Under Authentication被認証回路
略語正式名日本語

※本文中の社名および商品名は、各社の商標および登録商標です。
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