A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
略語正式名日本語
LADALazer Assisted Device Alterationラーダ
LASICLayout Analysis for Systematic Identification Using Clusteringクラスタリングを用いたシステマチック欠陥同定に対するレイアウト解析
Last-Shift-LauchLast-Shift-Lauchラスト・シフト・ローンチ
LBISTLogic BISTロジック組込み自己テスト
LCCLeaded Chip Carrierリーディッドチップキャリア
LCDT/LCST/LCTLow Cost DFT/Structural Tester低価格DFT/構造テスタ
LERLine Edge Roughness線端の揺らぎ(ラフネス)
LFOLocal Fanout Optimization局所ファンアウト最適化
LFSRLinear Feedback Shift Register線形帰還シフトレジスタ
LGALand Grid Array Packgeランドグリッドアレイパッケージ
LivelockLivelockライブロック
LOCLaunch-Off-Capture/Launch-On-Captureローンチ・オフ・キャプチャ/ローンチ・オン・キャプチャ
Logic Testing and Design for TestabilityHideo Fujiwara論理回路のテストとテスト容易化設計
Long DimensionLong Dimension長寸法
LOSLaunch-Off-Shift/Launch-On-Shiftローンチ・オフ・シフト/ローンチ・オン・シフト
low-k TDDBlow-k Time Dependent Dielectric Breakdown低誘電率の絶縁膜経時破壊
LQFPLow Profile QFPロープロファイルQFP
LSBLeast Significant Bit最下位ビット
LSITSLSI Testing SymposiumLSIテスティングシンポジウム
LSIテスティングハンドブックLSIテスティング学会-[編]LSIテスティングハンドブック
LSI故障解析技術のすべて二川 清LSI故障解析技術のすべて
LSSDLevel Sensitive Scan Designエル・エス・エス・ディー
LT-RPGLow Transition Random Pattern Generator低遷移ランダムパターン生成器
LVPLazer Voltage Probingエルヴィーピー
LWRLine Width Roughness線幅の揺らぎ(ラフネス)
略語正式名日本語

※本文中の社名および商品名は、各社の商標および登録商標です。
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