A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
略語正式名日本語
M-SequenceMaximum-Length Sequence最大長系列
MADManufacturing-Aware Design製造を考慮した設計
March 13NMarch 13Nマーチ13N
March 18NMarch 18Nマーチ18N
March A/March B/March CMarch A/March B/March CマーチA/マーチB/マーチC
March C-March C-マーチC-
March GMarchGマーチG
March LAMarch LAマーチLA
March LRMarch LRマーチLR
March SR+/March SRD+March SR+/March SRD+マーチSR+/マーチSRD+
March X/March YMarch X/March YマーチX/マーチY
MarchingMarchingマーチング
MATS/MATS+/MATS++Modified Algorithmic Test Sequence修正アルゴリズミックテスト系列
Maximum-Length LFSRMaximum-Length LFSR最大長系列LFSR
MBISTMemory Built-In Self-Testメモリ組込み自己テスト
MBUMultiple Bit Upset複数ビットアプセット
MCLKMultiple-Clock複数クロック
MDCMulti-DC UnitマルチDCユニット
Method of Measuring Semiconductor Device Package DimensionsMethod of Measuring Semiconductor Device Package Dimensionsパッケージ規定寸法の測定方法(BGA,SOJ,SOP,集積回路)
MFDManufacturing For Design設計容易化マニュファクチャリング
MinVDDMinumum VDD (voltage)最小動作電圧
MISRMultiple Input Signature Register多入力シグネチャレジスタ
Mission-CriticalMission-Criticalミッションクリティカル
Mixed-Mode BISTMixed-Mode Built-In Self-TestミックストモードBIST
ML-VIMultilevel Voltage Inputマルチレベル電圧入力
Monitored Burn-InMonitored Burn-Inモニタバーンイン
Moore's Law
More Moore
More Than Moore
Moore's Law
More Moore
More Than Moore
ムーアの法則
微細化
機能的多様化
MSCANMemory Scanメモリスキャン
MTBFMean Time Between Failure障害の平均発生間隔/平均故障間隔
MTTFMean Time To Failure障害までの平均時間/平均故障寿命
MTTRMean Time To Rapair/Recovery修理が完了するまでの平均時間/平均修復時間
Multiple-Cycle PathMultiple-Cycle Pathマルチサイクルパス
略語正式名日本語

※本文中の社名および商品名は、各社の商標および登録商標です。
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