A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
略語正式名日本語
N-detectionN-detectionN検出
N-Pattern/N**2-PatternN-Pattern/N**2-PatternNパターン/Nの2乗パターン
Nanometer Technology Designs: High-quality Delay TestsMohammad Tehranipoor and Nisar Ahmedナノメータ技術設計:高品質遅延テスト
Nanoscale Memory RepairM. Horiguchi
K. Itoh
ナノスケールメモリリペア
NANOTSNano Testing Symposiumナノテスティングシンポジウム
NBTINegative Bias Temperature Instability負バイアス温度不安定性
NCRNeighborhood Current Ratio隣接するチップのIDDQ電流比
NEDIANippon Electronic Device Industry Association日本電子デバイス産業協会
Neighbor Cell/Neighborhood CellNeighbor Cell/Neighborhood Cell隣接セル
Nihon Gata Monodukuri湯ノ上隆日本型モノづくりの敗北
Non-Invasive Operational ModeNon-Invasive Operational Modeノン・インベイシブ操作モード
NP-CompleteNondeterministic Polynomial CompleteNP完全
NPSFNeighborhood Pattern Sensitive Fault隣接パターンセンシティブ故障
NR/NR1/NRZNonreturn/Nonreturn-to-One/Nonreturn-to-Zero非戻り法/非1戻り法/非0戻り法
NRENon-Recurring Engineering cost再現しない技術コスト
NSC
NSR
Number of Spare Columns
Number of Spare Rows
スペア列の数
スペア行の数
NSDLNew Scan Description Language新しいスキャン記述言語
NTFNo Trouble Foundノートラブルファウンド
NTF/NTUNet Topology Fixed/Net Topology Unknownネットトポロジ固定型/ネットトポロジ制限なし型
略語正式名日本語

※本文中の社名および商品名は、各社の商標および登録商標です。
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