A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
略語正式名日本語
S-FBGASilicon FBGAシリコンFBGA
S-FLGASilicon FLGAシリコンFLGA
S-GDFSmall-DGFスモールGDF
SA-0/1 Fault --- LogicStuck-At-0/1 Fault --- Logic0/1縮退故障 --- 論理回路
SA-0/1 Fault --- MemoryStuck-At-0/1 Fault --- Memory0/1縮退故障 --- メモリ回路
SACSISSymposium on Advanced Computing Systems and Infrastructures先進的計算基盤システムシンポジウム
Safeware: System Safety and ComputersNancy G. Leveson
ナンシー・G・レブソン
松原友夫監訳
セイフウェア
安心安全なシステムとソフトウェアを目指して
Safty-CriticalSafty-Criticalセイフティクリティカル
SAMPLESAMPLE instructionSAMPLE命令
SAMPLE/PRELOADSAMPLE/PRELOAD instructionSAMPLE/PRELOAD命令
SATSimulation-After-Testテスト後シミュレーション
SBCSurround-by-Complementサラウンド・バイ・コンプリメント
SBG-C/SBG-TClamshell Type Socket for BGA/Open-Top Type Socket for BGABGA用クラムシェルタイプソケット/BGA用オープントップタイプソケット
SBTSimulation-Before-Testテスト前シミュレーション
SC0(s)/SC1(s)Sequential 0/1-Controllability of s信号sの順序回路0/1可制御性
Scan Cell/FFScan Cell/Flip-Flopスキャンセル/フリップフロップ
Scan ChainScan Chainスキャンチェイン
Scan DesignScan Designスキャン設計
Scan Design RulesScan Design Rulesスキャン設計ルール
Scan-Based BISTScan-Based BISTスキャンベースBIST
Scan-Path LinkerScan-Path Linkerスキャンパス・リンカ
SCAPSwitching Circuit Average Powerスイッチング回路平均電力
SCFState Coupling Fault状態カップリング故障
SCOAPSandia (Synopsys) Controllability/Observability Analysis Programスコウプ
SD
SH
SL
SG
SB1
SB2
SD
SH
SL
SG
SB1
SB2
スイッチSD
スイッチSH
スイッチSL
スイッチSG
スイッチSB1
スイッチSB2
SDDSmall-Delay Defect微小遅延欠陥
SDDWorkshop on Silicon Debug and Diagnosisシリコンデバッグと診断に関するワークショップ
SDFSegment Delay Faultセグメント遅延故障
SDLSoft Defect Localizationエスディーエル
SEScan Enableスキャンイネーブル
SEAJSemiconductor Equipment Association of Japan日本半導体製造装置協会
SEB
SEE
SEFI
SEGR
SEL
Single Event

Burnout
Effect
Function Interrupt
Gate Rupture
Latchup
単一事象

バーンアウト
イフェクト
機能インタラプト
ゲート破壊
ラッチアップ
SEC CodeSingle Error-Correcting Code単一誤り訂正符号
SEC-DED CodeSingle Error-Correcting Double-Error-Detecing Code単一誤り訂正2重誤り検出符号
Security-CriticalSecurity-Criticalセキュリティクリティカル
Select-DR-ScanSelect-DR-ScanSelect-DR-Scan状態
Select-IR-ScanSelect-IR-ScanSelect-IR-Scan状態
Selective HardeningSelective Hardening選択的耐性強化
SEMScanning Electron Microscope走査型電子顕微鏡
SEMICON JapanSEMICON Japanセミコン・ジャパン
Semiconductor LSI Technology牧野博之
益子洋治
山本秀和
半導体LSI技術
Semiconductors Integrated Circuit Design for ManufacturabilityA. Balasinskiマニュファクチュラビィティ半導体回路設計
SerDesSerialize/Deserializeシリアライズ/デシリアライズ,サーデス
SEUSingle Event Upset単一事象アップセット
SFB-C/SFB-TClamshell Type Socket for FBGA/Open-Top Type Socket for FBGAFBGA用クラムシェルタイプソケット/FBGA用オープントップタイプソケット
SFFScan Flip-Flopスキャン・フリップフロップ
SFL-C/SFL-TClamshell Type Socket for FLGA/Open-Top Type Socket for FLGAFLGA用クラムシェルタイプソケット/FLGA用オープントップタイプソケット
Shift-DRShift-DRShift-DR状態
Shift-IRShift-IRShift-IR状態
Shmoo PlotShmoo Plotシュムー図
Short-Circuit FaultShort-Circuit Fault短絡回路故障
SIScan Inputスキャン入力
SISignal Integrityシグナルインテグリティ
Si2Silicon Integration Initiativeシリコン集積イニシアティブ
SIBSegment Insertion Bit/
Select Instrument Bit
セグメント挿入ビット/
インスツルメント選択ビット
Signature AnalysisSignature Analysisシグネチャ解析
SIMScanning Ion Microscope走査型イオン顕微鏡
Simulation-Based Testability MeasureSimulation-Based Testability Measureシミュレーションベース・テスト容易化尺度
SIPSingle Inline Packageシングルインラインパッケージ
SiP技術のすべて赤沢 隆SiP技術のすべて
SISRSingle Input Signature Register単一入力シグネチャレジスタ
SIVStress-Induced Voidingストレス誘導ボイディング
SJTAGSystem JTAGシステムJTAG
Skewed LoadSkewed Loadスキュードロード
Skin EffectSkin Effect表皮効果
SKUStock Keeping Units最小在庫管理
SLG-CClamshell Type Socket for LGALGA用クラムシェルタイプソケット
SLIDERSimulation of Layout-Injected Defects for Electrical Responsesレイアウトに基づく故障挿入により電気的応答のシミュレーション
SLTSystem-Level Testシステムレベルテスト
SMStress-Migrationストレスマイグレーション
SMILESafe Multiprocessor system for InterLocking Equipmtent連動装置用安全マルチプロセッサシステム
SNMStatic Noise Margin静的ノイズマージン
SNPSFStatic Neighborhood Pattern Sensitive Fault静的隣接パターン依存故障
SOScan Outputスキャン出力
SO(s)Sequential Observability of s信号sの順序回路可観測性
Social ProgramSocial Program懇親会
SOCRATESSOCRATESソクラティーズ
SOFSmall Outline F-Leaded Packageスモールアウトラインフラットリードパッケージ
SOFStop-on-Failストップ・オン・フェイル
Soft FaultSoft Faultソフト故障
SOISmall Outline I-Leaded PackageスモールアウトラインIリードパッケージ
SOJSmall Outline J-Leaded PackageスモールアウトラインJリードパッケージ
SONSmall Outline No Lead Packageスモールアウトラインノーリードパッケージ
SOPSmall Outline Packageスモールアウトラインパッケージ
Speed BinSpeed Binスピードビン
SPMScanning Probe Microscope走査プローブ顕微鏡
SQPGSequential Pattern Generator逐次パターン生成器
SSIRIInternational Conference on Secure Software Integration and Reliability Improvementセキュアソフトウェアの構成と信頼性改善に関する国際会議
SSNSimultaneous Switching Noise同時スイッチング雑音
SSOPShrink SOPシュリンクSOP
SSSInternational Symposium on Stabilization, Safety, and Security of Distributed Systems分散システムの安定性,セイフティ,セキュリティに関する国際シンポジューム
STARCSemiconductor Technology Academic Research Center株式会社半導体理工学研究センター
STDFStandard Test Data Format標準テストデータ形式
Steering CommitteeSteering Committeeステアリング委員会
STEMScanninng Transmission Electron Microscope走査型透過電子顕微鏡
STF/STR FaultSlow-To-Fall/Slow-To-Rise Fault立下り/立上り故障
STMScanning Tunneling/Tunnelling Microscope走査トンネル顕微鏡
STRJSemiconductor Technology Roadmap Committee of Japan半導体技術ロードマップ専門委員会
Structural TestStructural Test構造テスト
STSSEMI Technology SymposiumSEMIテクノロジーシンポジューム
STTSilicon Test Technologiesシリコン・テスト・テクノロジーズ株式会社
Stuck-Off/Stuck-Open FaultStuck-Off/Stuck-Open Fault固定オフ/オープン故障
Stuck-On/Stuck-Short FaultStuck-On/Stuck-Short Fault固定オン/ショート故障
STUMPSSelf-Test Using a MISR and Parallel Shift register sequence generatorスタンプス
STWSwitching Time Frame Windowスイッチング時間フレームウインドウ
SVPSurface Vertical Package縦型表面実装パッケージ
SWDFTSouthwest DFT ConferenceサウスウエストDFT会議
SWoPPSummer United Workshops on Parallel, Distributed and Cooperative Processing並列/分散/協調処理に関するサマー・ワークショップ
System RecoverySystem Recoveryシステム回復
System-Clock-LaunchSystem-Clock-Launchシステム・クロック・ローンチ
Systematic DefectSystematic Defectシステマチック欠陥
略語正式名日本語

※本文中の社名および商品名は、各社の商標および登録商標です。
A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
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