A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
略語正式名日本語
V Coupling FaultV Coupling FaultV型カップリング故障
VASTVirtualization-Assisted concurrent autonomous Slef-Test仮想化を用いたコンカレント自律自己テスト
VDECVLSI Design and Education Center東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
Vih/VilInput High/Low Logic Level入力ハイ/ローレベル電圧
VirtualScanVirtualScanバーチャルスキャン
VLCTVery Low Cost Tester低価格テスタ
VLSI DesignInternational Conference on VLSI DesignVLSI設計に関する国際会議
VLSI Test Principles and ArchitecturesL.-T. Wang, C.-W. Wu, and X. WenVLSIテストの原理とアーキテクチャ
Voh/VolOutput High/Low Logic Level出力ハイ/ローレベル電圧
Volume DiagnosisVolume Diagnosis大量故障診断
VSIMVSIM電圧印加電流測定
VSVMVSVM電圧印加電圧測定
VtThreshold Voltageしきい値電圧
VTSVLSI Test SymposiumVLSIテストシンポジューム
略語正式名日本語

※本文中の社名および商品名は、各社の商標および登録商標です。
A-B-C-D-E- F-G-H-I-J- K-L-M-N-O- P-Q-R-S-T- U-V-W-X-Y- Z
会社概要-ACCESS-ご意見・ご要望