[2007-07-06]メールマガジン創刊号

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STTメールマガジン  2007年7月6日号 創刊号
発信元 シリコン・テスト・テクノロジーズ株式会社
http://www.silicontest.jp/
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テスト技術略語集 http://www.silicontest.jp/abbreviations/
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--- 目次 -------------------------------------------
●【ご挨拶】
●【ビジネスニュース】IDMランキング,製造装置ランキング,BBレシオ
●【最新技術動向】ETS,VTS,DAC
●【特許紹介】テストパターン発生器
●【チュートリアル連載記事】DFT技術講座(第1回) 岩崎一彦
●【チュートリアル連載記事】故障解析技術講座(第1回) 佐藤康夫
●【編集後記】


--- ご挨拶------------------------------------------
このたび,シリコン・テスト・テクノロジーズ株式会社を,2007年6月1日付
けにて設立登記しました.これもひとえに,皆様方のご支援の賜物と,心か
ら感謝申しあげる次第でございます.

弊社は大学発ベンチャーとして半導体テスト分野における技術調査,研究開
発,人材育成を目的としております.今後も予想される半導体プロセスの微
細化や半導体製品の応用範囲の拡大に伴い,困難となるテスト工程を支える
一助となれるよう,たゆまぬ企業努力を重ねて参る所存でございます.弊社
の特徴のひとつである産学連携の利点を生かし,半導体テスト分野の発展に
皆様とともに貢献して参りたいと願っております.

なにぶんにも未熟者ではございますが,一層のご指導ご鞭撻を賜りますよう
お願い申し上げます.
(シリコン・テスト・テクノロジーズ株式会社 社員一同)


---【ビジネスニュース】-----------------------------
半導体産業新聞2007年5月16日号
ガートナー社による2006年半導体メーカ・ランキングトップ10が掲載された.
第1位はIntelであり,日本企業では第6位東芝,第8位ルネサステクノロジと
なっている.SanDisk分を含めると東芝の順位は第4位となる.詳しくは同新
聞を参照されたい.ホームページは以下の通りである. 
http://www.semicon-news.co.jp/


---【ビジネスニュース】-----------------------------
半導体産業新聞2007年6月27日号
半導体産業新聞による2006年半導体製造装置メーカ上位50社の売上ランキン
グが報告された.第1位はアプライドマテリアルである.日本企業では,第2
位東京エレクトロン,第4位ニコン,第8位日立ハイテクノロジーズ,第9位
大日本スクリーン製造,第10位アドバンテストとなっている.テスト関係で 
は,第11位テラダイン,第14位Verigy,第19位横河電機,第26位クリーデン
ス,第39位LTXなどとなっている.詳しくは同新聞を参照されたい.ホーム
ページは以下の通りである.
http://www.semicon-news.co.jp/


---【ビジネスニュース】-----------------------------
日本半導体製造装置協会
2007年5月度の半導体製造装置のBBレシオ速報値(3ヶ月平均)が公表された.
それによると,BBレシオは0.94であり,受注額は前月比2.5%増,前年同月比
1.8%減の166,171百万円であった.販売額は前月比3.0%増,前年同月比21.7%
増の177,226百万円であった.詳しくはSEAJのホームページをご覧ください. 
http://www.seaj.or.jp/


---【最新技術動向】VTS報告 -------------------------
VLSI Test Symposium 2007 (VTS'07) は5月6日から5月10日まで米国カリフ
ォルニア州バークレー市のClaremont Resort & Spaで開催された.基調講演
はシノプシス副社長のA. Domic氏による"New Role of Test in 45 
Nanometer" であった.テクニカルプログラムは,レギュラー論文発表60件, 
企業で実践されている高度な研究開発成果発表24件の他,テスト技術の問題
点や研究方向を探るパネル形式のセッションが5つあった.特に,RFテスト
と故障診断のセッションはそれぞれ2つあり,その重要性の高さが伺える.
また,今年のVTSは記念すべき第25回目であったため,1993年から2007年の
全論文を収録したCDが配布された.
(九州工業大学 温 暁青)


---【最新技術動向】ETS報告--------------------------
第12回European Test Symposium (ETS'07) は5月20日から5月24日まで南ド
イツのフライブルク市のコンベンションセンターで開催された.参加者は
163名(内日本から8名)であった.基調講演では,NXP Semiconductors社の
R. Segers氏は,テストや故障診断による付加価値について,また,DFTコン 
サルタントのB. Bennetts氏は,DFTの過去,現在,将来についてそれぞれ講
演した.テクニカルプログラムは,Scientific Track論文発表27件(内日本
から2件),Workshop Track論文発表11件,ポスター発表35件(内日本から2
件)などで構成されていた.その内容は,LSIの微細化・システム化のトレ
ンドを反映して, Analog,RF,NoC Testing,On-Line Testing,Single 
Event Upsetsと幅広かった.特に,故障診断関連のセッションは3つもあり,
この技術分野の重要性と関心の高さが伺える.
(九州工業大学 温 暁青)


---【最新技術動向】DAC報告 -------------------------
第44回Design Automation Conference (44th DAC) は6月4日から6月8日まで
米国カリフォルニア州サンディエゴ市のSan Diego Convention Centerで開
催された.DACは161件の論文発表,250社の展示などを抱える設計自動化分
野最大の国際会議.テスト分野に関しては,39件の投稿論文から選ばれた8 
件の発表があり,日本からは,九州工業大学と奈良先端科学技術大学院大学
がそれぞれ発表した.テスト分野でも他分野と同様に電力考慮に関する発表
が多く,8件中4件を占めて単独のセッションが構成された.今後の重要課題
として注目される.なお,来年の45th DACは米国カリフォルニア州アナハイ
ム市で開催される.
(半導体理工学研究センター(STARC) 畠山 一実)


---【特許紹介】テストパターン発生器 ----------------
出願番号: 特許出願2002-265519,出願日: 2002年9月11日 
公開番号: 特許公開2004-101419,公開日: 2004年4月2日 
登録番号: 3672546,登録日:2005年04月28日 
発明の名称 : テストパターン発生器における最適初期値の決定方法および
装置 
発明者: 市野憲一他5名 
出願人 : 株式会社半導体理工学研究センター
概要:組込み自己テストのテストパターン発生器において,
・目的の故障カバレージに最短テスト長で到達する初期値,および
・ある固定されたテスト長に対して最大故障検出数が得られる初期値
の選定方法を提案する.初期値の計算に必要なオフラインの計算時間は必要
であるものの,チップのハードウェアを増加させることなくテスト時間を短
くすることができる.


---【チュートリアル連載記事】-----------------------
■  DFTの基礎知識(第1回)  ■
この講座では,テスト容易化設計(DFT)に関するトピックを紹介する.今
回は組込み自己テスト(BIST)小史である.最初のBISTは,1977年の米国
Hewlett-Packard社ロジックアナライザ5004Aの自己テスト回路と言われてい
る.当時,ロジックアナライザが複雑化しフィールドでのテストが困難にな 
った.そこで,テストパターン発生回路とテスト応答圧縮回路を装置に組み
込み,期待するシグネチャ(テスト応答の圧縮結果)と比較をした.

原理的には,現在のVLSIで用いられている構成と同一である.その後,BIST
はインテル社の80386プロセッサのPLAテストに用いられた.しかし,一気に
その利用が広がったわけではなかった.例えば,1991年および1998年開催の
ITCでは下記のパネルが企画された.

1991年 Acceptance Barriers Confronting DFT and BIST
1998年 BIST vs. ATE: Which is better, for which IC tests?

つまり,実用にはまだまだと言った感があった.現在のSoCでは,ご存知の
通りBISTが広く使われており,特に,フラッシュメモリをはじめとするメモ
リのテストでは必須の技術となっている.
(岩崎 一彦)


---【チュートリアル連載記事】-----------------------
■  故障解析の基礎知識(第1回)  ■
この講座では,故障解析に関するトピックを紹介する.今回はソフトウェア
による故障診断に関する話題を紹介する.

LSIの故障解析とは,テストで不合格となったチップの不良原因を調べる作
業を言う.大きな工程としては,故障診断,故障位置特定,物理解析がある.
故障診断とは,テスト結果と設計情報を照らし合わせて,不良動作を起こし
ている回路の候補を絞り込むソフトウェア技術を指す.

これは皆さんの大好きな探偵物語になぞらえることも出来る.名探偵は事件
の証拠(状況証拠)から犯人の候補を絞っていく.アリバイが証明された人
は犯人であり得ないことになるが,一見アリバイがありそうな犯人のアリバ
イ崩しは物語の山場である.故障診断も全く同じ考えで動くと言えよう.

ちなみに,Intel社の内製の故障診断ソフトウェアはポワロ,NEC社の内製の
故障診断ソフトウェアはコロンボ,日立のそれは小五郎と,それぞれ世界の
名探偵にちなんで命名されていると聞きます(出展:各社の故障診断はそれ
ぞれ,International Test Conference(ITC)2000, 2000, 2002で発表されて
いる.).
(佐藤 康夫)


編集後記------------------------------------------
社名の由来:昨年(2006年)10月米国サンタクララ市で開催されたITCに参
加しました.時差で眠れないヒルトン・ホテルで社名を考えました.シリコ
ンバレーに来ているので,シリコンを入れよう,テストの会社なのでそれも
入れよう,技術の会社なのでテクノロジー(ズ)としよう.単数形か複数形
かについては,ネイティブに聞いたところウーンと唸って数秒後に複数形の 
方が良いでしょうとのことでした.(岩崎)


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