[2007-10-23]メールマガジン第5号

━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
STTメールマガジン  2007年10月23日号
発信元 シリコン・テスト・テクノロジーズ株式会社
http://www.silicontest.jp/ 
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
ITCテストウィーク速報
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 

--- 目次 -----------------------------------------------------------
●【最新技術動向】ITC2007 概況と基調講演
●【最新技術動向】ITC2007 スペシャルパネル
●【最新技術動向】ITC2007 招待講演1

---【最新技術動向】ITC2007 概況と基調講演 --------------------------
本年のテスト・ウィークが,シリコンバレーサンタクララ市で,10月21日か
ら同26日の予定で始まった.会場の盛況ぶりからみると,参加人数は昨年並
と思われる.21日および22日にはチュートリアルが実施された.国際会議
ITCおよび展示は23日から25日にかけて行われる.
会場の写真:
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/071023/ITC07pic1.htm

印象としては,日本からの参加者は増加した一方,他のアジア地域からの参
加者はやや減少したように思われる.本年はATSがITCの2週間前に開催され
たため,その影響もあるのかも知れない.

23日午前には,インテルのMobility GroupのVice PresidentであるGadi 
Singer氏による基調講演が行われた.講演のタイトルは下記の通りである.
   The Challenges of Nanotechnology and Giga Complexity

今後のコンシューマエレクトロニクス製品向けプロセッサに求められるトレ
ンドとして,
   (1)複雑性と多様性
   (2)低消費電力かつ高パフォーマンス
   (3)ナノテクノロジー
   (4)TAT短縮
の4点が挙げられ,これらのトレンドにおけるテストの困難さが示された.

消費電力とパフォーマンスに関しては,従来のようなトレードオフではなく,
今後は一定の消費電力の制限の下でのパフォーマンス改善が求められている
ことが強調された.TAT短縮に関しては,IPブロックや検証/テスト手法の
"late binding"の重要性と,そのためのインテルの取り組みが示された.
(新井 雅之)


---【最新技術動向】ITC2007 スペシャルパネル ------------------------
22日夕方からは,テクニカル・パネルが開催された.テーマは下記の通りで
ある.
   At-Speed Scan Test: Reality of Fantasy?
会場は200名を越す参加者があり,立見もでるほどの盛況振りであった.

ARM社Aitken氏がモデレータであり,下記5名のパネリストがそれぞれの見解
を述べた.(登壇順)
   G. Giles (AMD)
   S. Patil (Intel)
   R. Raina (Freescale)
   K. Butler (TI)
   P. Krishnamurhty (LSI)

いずれも,温度差はあるものの機能テストは必要であるという意見であった.

なお,2008年4月に開催されるITSW (International Test Synthesis 
Workshop)は,同様に下記をテーマとしているが,本ワークショップのPC 
Co-chairは今回のITCでVice PC Chairを務めるテキサス大学Touba教授であ
る.at-speed scanが本当に流行るのか,流行らせようとしているのかは注
目すべきであろう.
   ITSW Theme: At-Speed Scan: Challenges and Opportunities 
http://www.tttc-itsw.org/

(某)


---【最新技術動向】ITC2007 招待講演1 -------------------------------
今回のITCでは,毎日午後の最初に1件ずつ,計3件の招待講演が予定されて
いる.23日には,テキサス・インスツルメンツのKen Butler氏による講演が
行われた.講演タイトルは下記の通りである.
  Pinning Down This Elusive Thing Called "Adaptive Test" 

近年,adaptive testに対する注目が集まり,多くのテスト手法が開発され
ているが,何を何にadaptさせるかは様々である.本講演では,これまでに
提案されたadaptive testに関するサーベイの結果が紹介された.

携帯電話やスマートフォン向けデバイスの出荷台数は,デスクトップPC向け
製品の数倍に達するというデータがまず示され,本講演では主に高ボリュー
ムの無線製品を対象とした観点から,各手法の位置付けと利点が紹介された.

多くの手法はコスト削減を目的としており,スキャンサイクルの最適化や,
サンプリング結果から故障検出への寄与の少ないテストを判定し,そのテス
トをスキップする手法など,テスト項目やテスト時間を適応的に削減する.
また,測定された消費電力や故障の重要度によってテスト項目を変化させ,
複数の品質レベルに対して仕分けを行う手法も紹介された.一方,プロセス
微細化に伴う諸問題への対処を目的として,適応的にテスト条件やパターン 
を変更/追加する手法についても紹介された.
(新井 雅之)


編集後記--------------------------------
昨年に引き続いてサンタクララでのITC開催です.シリコンバレー真っ只中
で,近隣にはIT企業のオフィスが立ち並ぶ,環境の良いところです.
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/071023/ITC07pic2.htm 
ただ,入国審査の際に目的を聞かれて観光と答えたら,サンタクララで何を
見るんだと不審がられました.それほど何もないところな上,目ぼしい場所
には昨年出掛けてしまいました.真面目に会議に参加できるようにという主
催者の配慮でしょうか.ちなみに来年も同じとのことです.
(新井 雅之)


◇◆当サービスのご利用に当たって◆◇--------------------------------
★このメールは送信専用メール・アドレスから配信されています.
◇このままご返信いただいてもお答えできませんので下記にご連絡 下さい.
★メールマガジン申込:subscribe@silicontest.jp
★メールマガジン停止: unsubscribe@silicontest.jp
★メールマガジン全般:editor@silicontest.jp
-------------------------------------------------------------------- 
Copyright(C) Silicon Test Technologies社,2007
掲載記事の無断転載を禁じます.

お知り合いの方への転送・紹介は自由です
--------------------------------------------------------------------
			
会社概要-ACCESS-ご意見・ご要望