[2008-09-30]メールマガジン第17号


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STTメールマガジン  2008年9月30日号
発信元 シリコン・テスト・テクノロジーズ株式会社
http://www.silicontest.jp/
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テスト技術略語・ミニ解説集 http://www.silicontest.jp/abbreviations
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コンピュータ歴史博物館外観:http://www.silicontest.jp/museum/
サンノゼからクルマで20分程度です
Computer History Museum:http://www.computerhistory.org/
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--- 目次 -----------------------------------------------------------
●【ビジネスニュース】車載マイコン,カスタマー満足度調査
●【最新技術動向】FIT,ISTF,ATS/WRTLTプログラム
●【図書紹介】テスター,週刊現代
●【チュートリアル連載記事】DFT技術講座(第13回)岩崎一彦
●【経済指標】SEAJ BBレシオ
●【編集後記】


---【ビジネスニュース】車載マイコン --------------------------------
半導体産業新聞 第1806号 2008年9月3日発行
半導体産業新聞 第1807号 2008年9月10日発行
半導体産業新聞 第1808号 2008年9月17日発行
半導体産業新聞 第1809号 2008年9月24日発行

車載マイコンに関して,シリーズで各社の技術動向,および生産体制等に関
する記事が掲載されている.各回の見出しは以下の通りである.

第1回:富士通マイクロエレクトロニクス(株)
・CANマイコンで世界的存在感
・マルチコアMCUも09年上期に出荷

第2回:NECエレクトロニクス
・「78K」「V850」で多面展開
・2010年度世界ナンバーワン標榜

第3回:ルネサステクノロジ(株)
・車載マイコンで世界トップ奪取へ
・内臓フラッシュは90nmからMONOSへ
・マルチコアでも低消費電力でリード

第4回:インフィニオンテクノロジーズ
・16ビットはパワートレイン系で実績
・独自コア強みに32ビット市場を本格開拓

詳しくは同新聞を参照されたい.ホームページは以下の通りである.
http://www.semicon-news.co.jp/


---【ビジネスニュース】カスタマー満足度調査 ------------------------
半導体産業新聞 第1808号 2008年9月17日発行

VLSIリサーチ社による半導体製造装置企業の顧客満足度調査が掲載された.
下記の6部門に分かれて,結果が示されている.
・前工程プロセス装置(前工程売上げ上位15社)
・前工程プロセス装置(前工程売上げ上位15社外)
・テスト装置
・マテリアルハンドリング装置
・プロセス評価・診断装置
・後工程装置

テスト装置では下記の順位である.評価の詳細な内訳(所有コスト,ソフト
ウェア,出張技術サポート他計13項目)も掲載されている.

第1位(前年第1位):Inovys(米)
第2位(前年第3位):ADVANTEST(日)
第3位(前年第4位):LTX(米)
第4位(前年第9位):Eagle Test Systems(米)
第5位(前年第2位):Nextest Systems(米)
第6位(前年第5位):Teradyne(米)
第7位(前年第7位):Credence Systems(米)
第8位(前年第10位外):SPEA(欧)
第9位(前年第10位):FEI(米)
第10位(前年第6位):Verigy(米)

詳しくは同新聞を参照されたい.ホームページは以下の通りである.
http://www.semicon-news.co.jp/
https://www.vlsiresearch.com/ Public AreaからCustomer Satisfaction 
Survey

---【最新技術動向】FIT ---------------------------------------------
http://www.ipsj.or.jp/10jigyo/fit/fit2008/index.html

2008年9月2日から4日まで,第7回情報科学技術フォーラム(FIT2008)が慶応
義塾大学湘南藤沢キャンパスにて開催された.本フォーラムは電子情報通信
学会情報・システムソサイエティ大会および情報処理学会全国大会の合同大
会としてスタートしたイベントであり,本年は15の分野において総計700件
以上の発表が行われた.

テスト関連の話題としては,4日午前中の6Lセッションにおいて,首都大お
よび広島市立大からそれぞれ発表があった.
(新井雅之)


---【最新技術動向】イノベーション・ジャパン ------------------------
http://expo.nikkeibp.co.jp/innovation/

2008年9月16日から18日まで,東京国際フォーラムにおいてイノベーション・
ジャパン2008が開催された.JSTとNEDOの共催で行われた本イベントは,"大
学見本市"と付けられたサブタイトルが示すとおり,大学で生まれた技術シ
ーズと産業界のニーズの結びつきを目的としている.ナノテク・材料や環境,
ITといった7個の分野に分けられた総計300件以上のパネルが展示され,各大
学・研究室の先端研究への取組みが紹介された.また,大学の知財本部や
TLO,大学発ベンチャーやベンチャー支援機関など,シーズを生かす取組み
についても紹介されていた.

展示会の他,新技術説明会やフォーラムも同時開催された.フォーラムの基
調講演は三菱電機の野間口有会長.産学官連携に基づくオープンイノベーシ
ョンの重要性が強調され,現在の日本における大学発シーズを生かすための
仕組みや取組みが,三菱電機の例を交えながら紹介された.
(新井雅之)


---【最新技術動向】ISTF --------------------------------------------
http://www.istf2008.org/

ISTF2008(Industry Strategy and Technology Forum)が,2008年9月16日
(火),17日(水)の両日パシフィコ横浜で開催された.主催は日本半導体
製造装置協会(SEAJ)とSEMI(Semiconductor Equipment and Materials 
International)である.本年のキャッチフレーズは下記の通りである.

半導体・FPDのあくなき挑戦 ― 新たなる価値の創造と夢の実現

初日には,基調講演2件とビジネスストラテジー・セッションがおこなわれ
た.2日目はテストセッションをはじめ,合計10件のセッションが開催され
た.このうち,基調講演とテストセッションについて概要を示す.詳しくは,
配布されたCDROMを参照されたい.また,SEAJ Journal 11月号に会議報告が
掲載される予定である.

【基調講演I】
タイトル:コマツの経営構造改革~強みを磨き,弱みを改革
講演者:坂根正弘 コマツ 代表取締役会長
概要:建設機械産業としてのコマツのグローバル化に関して説明があった.
国内競争で技術を磨き,海外展開をすることで成功してきた.また,開発技
術者もさることながら生産技術者も同様に重要視している.

【基調講演II】
タイトル:「攻めの経営」による東芝の半導体事業戦略
講演者:齊藤昇三 (株)東芝 執行上席常務 セミコンダクター社 社長
概要:IDMとして,メモリ,SoC,ディスクリートすべてを手掛け,2010年に
は売上2兆円を目指すという事業方針の説明があった.また,32nm以降のテ
クノロジーのロードマップについて示した.サプライアとの協調を強く望ん
でいる.

【テストセッション】
テーマ:巨大市場を構築する車載半導体の方向性
司会:泉谷渉 (株)産業タイムズ社

200席ほど容易された席がすべて埋まるほどの盛況であった.この業界に最
も詳しい泉谷氏の司会により充実した内容となった.

前半は下記4件の講演がおこなわれた.自動車産業は景気の波が比較的少な
く,年率8~10%程度の堅実な伸びを示している.

講演I:濱田公守 トヨタ自動車(株)
進化し続けるカーエレクトロニクス ~その現状と未来~

講演II:加藤之啓 (株)デンソー
デンソー半導体デバイスの新展開

講演III:南川明 アイサプライ・ジャパン(株)
次世代自動車とは?,それを実現する半導体とは

講演IV:清水啓義 テラダイン(株)
ローエンドからハイエンドまで対応する新テスト手法,技術

後半には,上記4名に加え吉村克信氏(ナノテクノロジービジネス推進協議
会)を加え,熱心なパネル討論がおこなわれた.テスト技術に限らず,半導
体ビジネス全般にわたる討論がおこなわれた.テスト技術に関しては次のよ
うな内容があった.車載半導体は信頼性の要求が高く,高品質で(テスト項
目が多数あり)なおかつ低価格(テスト時間が短い)でなければならない.

日本の自動車産業は日本の半導体産業を信頼しており,ともに海外進出を願
いたいという要望も述べられた.

個人的な感想を述べたい.従来とは趣向が異なり,アプリケーション(車載
半導体)を中心にそのテストとの関連を議論するという意味で,有意義であ
った.参加者も多く,興味の持てる内容であった.儀礼的であっても,テス
ト技術の重要さを持ち上げてもらえると更に良かった.
(岩崎一彦)


---【最新技術動向】ATSプログラム -----------------------------------

2008年11月24日~27日に札幌で開催される第17回ATSは,北南米,アジア,
欧州等から選ばれた61件の論文発表(20のテクニカルセッション)の他,
LSI設計・製造現場における現状のテストの課題と取り組みを理解し討論出
来るよう,様々なプログラムを用意しています.LSIおよびシステムの品質
や信頼性の最先端技術を国内外の産学の専門家と議論できるチャンスです.
次の日本開催は4年後の予定ですので,是非,今回のご参加を検討ください.
詳細は下記の公式サイトをご覧ください.

ATS2008公式サイト: http://ats08.info.hiroshima-cu.ac.jp/

【特別講演】
テストの研究開発の立場だけでなく,今後のテストの課題について回路・設
計・システム・製造の様々な観点から,著名な専門家の方々にご講演いただ
きます.
(1)基調講演(2件):
ナショナル・セミコンダクタ社 Brian Stevens氏
日立製作所 内山邦男氏
(2)招待講演(2件):
東京大学 浅田邦博教授
メンター・グラフィックス社 Brady Benware氏

【アナログ生産テスト特別セッション(2セッション)】

【歩留まり解析に関するパネルセッション(1件)】

【インダストリセッション】
ショートプレゼンテーションとポスター展示(11件)
参加社:
Cisco Systems,ルネサステクノロジ,SynTest Technology,Intel 
Microelectronics,NECエレクトロニクス,Industrial Technology 
Research Institute,富士通,Texas Instrument,Marvell Semiconductor,
浜松ホトニクス,Broadcom

【チュートリアル】 *11月24日,シンポジウムとは別に申し込みが必要で
す.
IEEE Computer Society, Test Technology Educational Program (TTEP)に
登録された質の高いチュートリアルの中から,日本の企業等のテストニーズ
にマッチして,かつ実践的な内容を含むものを選びました.通常は各1日の
コースを半日に短縮して,1日に2つを受講できるようにしました.また,料
金も2コースのセット価格で割安になっています.各テーマの基本的な手法
を知りたい人は勿論,現状の課題や取り組みを知りたい企業や研究者にも役
立つ内容となっています.

チュートリアル1:
"ゼロ・デフェクト"のIC品質と信頼性を目指す統計的スクリーニング手法
Statistical Screening Methods Targeting "Zero Defect" IC Quality 
and Reliability
Adit Singh, Auburn University
概要:
微細化プロセスにおける物理欠陥の統計分布,プロセス変動と性能パラメー
タの相関等を統計的に分析し,"ゼロ・デフェクト"を目指す,高品質でかつ
低コストなアプローチを,IBM,Intel,LSI,NXP等の実例を挙げながら解説
します.

チュートリアル2:
ディレイテスト:理論と実践
Delay Testing: Theory and Practice
Srinivas Patil, Intel Corporation, Sreejit Chakravaty, LSI 
Corporation
概要:
先端企業で実際に用いられているスキャンベースのディレイテスト手法に注
力し,ディレイ故障モデル,DFT手法,クロストークやパワー等の扱い,ツ
ールや手法,および実例について紹介します.特に理論面は,複雑な理論展
開は避けて,重要な概念を分かり易く理解出来るよう解説します.
(佐藤康夫)


---【最新技術動向】WRTLTプログラム ---------------------
http://aries3a.cse.kyutech.ac.jp/wrtlt08

ATSに引き続き,2008年11月27日および28日に札幌市内でワークショップ
WRTLT (Workshop on RTL and High-level Testing)が開催されます.今回の
ワークショップでは,"Power/Thermal-Aware Testing"をテーマとしており,
1セッション3件の論文発表に加え,下記の企画が予定されています.

・基調講演:"Power-Aware System-on-Chip Testing"
 (スウェーデン リンショーピン大 Erik Larsson教授)

・招待講演:"Power: The New Dimension of Test"
 (フランス モンペリエ第二大学LIRMM研究所 Patrick Girard教授)

・パネル:"Roads to Power-Safe LSI Testing"
 オーガナイザ:STARC 畠山一実氏
 モデレータ:九州工業大 温暁青教授
 パネリスト:
  米国コネチカット大 M. Tehranipoor教授
  インドテキサスインスツルメンツ社 C. P. Ravikumar氏
  ルネサステクノロジ社 石橋孝一郎氏
  米国ケイデンス社 K. Chakravadhanula氏

この他,SoCテスト,高レベルおよびRTLテスト,信頼性と診断・デバッグ,
テストデータ圧縮,BISTとディレイテストのセッションがあり,ワークショ
ップ全体で23件のレギュラー論文発表が予定されています.ぜひご参加下さ
い.

プログラムや場所など,ワークショップの詳細についてはHPをご覧下さい.
(新井雅之)


---【図書紹介】テスター --------------------------------------------
著者:奥沢煕
書名:はじめて見るテスターの本
出版社:誠文堂新光社,2000円+税

「テスター」といっても,本メルマガをお読みの多くの方々が連想されるで
あろうLSI用ATEの話ではない.2本のテスト棒で電圧,電流,抵抗値などを
手軽に測ることができ,手のひらにも乗る,あの小さなテスターのことであ
る.本書は,そのテスターをはじめて使う人のために書かれた実用書である.
章構成は以下のとおり.

第1章 いろいろなテスターと仕組み
第2章 テスターの使い方
第3章 一般電子部品のテスト
第4章 半導体素子のテスト
第5章 テスターの活用
第6章 蘇る真空管ラジオ

種々の電子部品のテストや電子回路の調整を目的とした実践的な記述が中心
となっているが,デジタルテスターの構造やさまざまな測定の原理などにつ
いても解りやすく解説されている.エレクトロニクスの初心者でなくとも興
味深く読める内容である.また,普段十分に理解しているつもりの測定実験
にも意外な注意点が隠れていることを教えられ,大いに感心した.

本書のとりわけユニークな点は,かつて家庭に広く普及した真空管式ラジオ
(5球スーパー)の保守・調整方法の解説に全体の3割近い紙面(第6章)を
割いていることである.近年では,真空管オーディオの静かなブームもあり,
東欧製や中国製の真空管を安価に販売しているパーツ店を秋葉原あたりで多
く見受ける.日頃,最先端の半導体技術と格闘されている方々も,たまには
物置の奥などで眠っている真空管式ラジオを引っ張り出して,本書を手引き
に,エレクトロニクスの原点ともいうべき技術に触れてみてはいかがであろ
うか.

アマゾンでの購入(1500円以上送料無料)は下記を参照されたい.
http://www.silicontest.jp/
(福本聡)


秋葉原ラジオセンター2階内田ラジオ店では,真空管ラジオキットを31,150
円で販売している.真空管アンプについては,内田ラジオ店他,ヨドバシ
Akiba 4階あるいは秋葉原ラジオデパートで様々なタイプ(数万円から30万
円越えまで)が販売されている.

秋葉原ラジオセンター:http://www.radiocenter.jp/
ヨドバシカメラ:http://www.yodobashi.com/
東京ラジオデパート:http://www.toradi.com/
(某)


---【図書紹介】週刊現代 2008年9月27日号 ----------------------------
漫画:かとうひろし
記事名:こちら週刊現代突撃班:復活!?日本の半導体, pp. 91-100
出版社:講談社,350円

我が国半導体の現状と今後の見通しが,劇画形式で掲載されている.語るの
は半導体産業新聞社泉谷渉氏である.半導体の用途,産業としての現状,今
後の見通しが述べられている.サムスン電子,エルピーダメモリ,ソニー,
東芝他多数が実名で登場する.泉谷氏の次の言葉で締めくくられている.“
5年後半導体業界の新しいトップに再び半導体王国日本が輝くのはまず間違
いないと私は思いますよ”

週刊現代バックナンバー:http://tsutaya.zassi.net/backnumber/230/
(岩崎一彦)


---【チュートリアル連載記事】 --------------------------------------
■  DFTの基礎知識(第13回)  ■

今回は,組合せ回路に対して縮退故障を検出するテストベクトルに関して説
明する.
下図で示される論理回路-マルチプレクサ-を考える.故障が生じなければ
この図中式(1)で示されるような論理関数yを実現する.信号bがハイレベル
あるいはローレベルに従って,出力信号yとして信号aまたは信号cが選択さ
れる.
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/080930/fig1.htm

ここで,例えば信号線fに1-縮退故障が生じたと仮定しf/1と表す.このとき
の論理関数yf/1は下記のように式(2)で表わされる.
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/080930/fig2.htm

また,例えば信号線gに0-縮退故障が生じたと仮定しg/0と表す.このときの
論理関数yg/0は下記のように式(3)で表される.
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/080930/fig2.htm

これらの関数は真理値表によって下記のように表すことができる.
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/080930/table1.htm

例えば,入力(a, b, c) = (0, 1, 1) に対して,故障がないときy = 0を出
力するが,縮退故障f/1が生じた場合のマルチプレクサの出力= 1となる.言
い換えると,入力(a, b, c) = (0, 1, 1) は信号線fの1-縮退故障を検出す
るテストベクトルである.関数yと関数yf/1の差は故障差関数と呼ばれ,下
記のように式(4)で表される.
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/080930/fig2.htm

同様に縮退故障g/0を検出するテストパターンは(a, b, c) = (0, 0, 0),
(0, 1, 0),(0, 1, 1),(1, 0, 0)の4種類であり,故障差関数は下記の通り
式(5)で表わされる.
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/080930/fig2.htm

生じうる故障の数は,前回説明したような等価故障と呼ばれる手法によって
減らすことができる.それぞれの故障に対して故障差関数を求めることによ
って,原理的には,論理回路のテストベクトルを求めることができる.

実用規模の論理回路に対して,上記のような故障差関数を求めることは現実
的ではない.そこで,アルゴリズムに基づいてテストベクトルが生成される.
このアルゴリズムに関しては次回以降で説明する.

(岩崎一彦)


---【経済指標】-----------------------------------------------------
SEAJ BBレシオ 8月度 1.07
半導体製造装置協会から転載:http://www.seaj.or.jp/
月次経過:http://www.silicontest.jp/mailmagazine/080930/fig3.htm


編集後記 -----------------------------------------------------------
パシフィコ横浜で開催されたISTFに参加した.テストセッションに限らず,
参加者の多くが年配男性であり(私もそうですが),若者と女性と外国人の
参加者が少なかった.半導体産業が,若者と女性と外国人にとっても魅力的
であるように将来へ向けての改善すべきことも多いように思う.
(岩崎一彦)

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