[2008-10-28]メールマガジン第18号


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STTメールマガジン  2008年10月28日号
発信元 シリコン・テスト・テクノロジーズ株式会社
http://www.silicontest.jp/
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テスト技術略語・ミニ解説集 http://www.silicontest.jp/abbreviations
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--- 目次 -----------------------------------------------------------
●【最新技術動向】ヴェリジ・テクニカルセミナ
●【最新技術動向】ITC速報
●【経済指標】SEAJ BBレシオ
●【編集後記】

---【最新技術動向】ヴェリジー テクニカルセミナー 2008 --------------
http://www.verigy.com/

ヴェリジー テクニカルセミナー 2008を,2008年10月15日(水)品川のホテ
ルパシフィック東京で開催.基調講演2件とSOC,メモリに分かれて合計10件の
テストセッションを行いました.

【基調講演1】
 Consumers in the Drivers’ Seat -消費者が方向を決める時代
                  (Debbora Ahlgren, VP & CMO, Verigy Inc.)
【基調講演2】
 現在の半導体業界動向について- 課題,機会,展望
                 (産業タイムズ社半導体産業新聞編集長 野村和広様)

【テストセッション】
 SOC 5件, メモリ 5件

景気減速により各社出張制限等で社外セミナーへの出席が厳しい状況にも関
わらず,基調講演ではメイン会場がほぼ埋まる盛況ぶりでした.特に産業タイ
ムズ社 野村和広様の講演では,真剣にメモを取られる方も多く,この厳しい
状況を乗り切るために新しい何かを見つけたいとのご意見が寄せられました.

SOCセッションでは,実デバイスを用いたテスト技術の発表が多くあり,セッ
ション終了後,発表者へ自社デバイスへ展開出来るかなど具体的な話や講演
依頼が出ていました.また,COT(Cost Of Test)の観点から,現有のテスタやテ
スト手法と比べてどれだけテストコストを削減できるか検討したいとの声も
あり,性能だけでなく経済性も重視される質問も寄せられました.

メモリセッションにおいては,更なるプロセス微細化に伴う技術的チャレン
ジと同時に,今なお続く厳しい価格競争の中で大幅なテストコスト削減の直
面課題や求められるテスト手法などが紹介され,またXDR(tm) DRAMやGDDR5な
どの高速メモリテスト手法に関する紹介では,その分野以外の多くの方々に
もご興味を持たれ活発な議論がされました.

今後とも,このようなイベントや製品,ソリューションを通じて,日本の半導
体ビジネスに貢献していきたいと考えています.
(坂本勝美)


---【最新技術動向】ITC 概要-----------------------------------------
http://www.itctestweek.org/

10月26日(日)から同31日までの予定で,ITC (International Test 
Conference)が開催されている.開催地はサンタクララ・コンベンションセ
ンターである.26日と27日には主としてチュートリアルが開催され,28日
(火)に全体セッション,引き続き28日から30日までが技術セッション,パ
ネル,レクチャ,企業からのプレゼンテーション,ポスタ,30日夕方と31日
に併設ワークショップが開催される.

技術セッションの国別機関別内訳を下記に示す.
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/081028/fig4.htm
また,上記の年次経過を下記に示す.
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/081028/fig3.htm
参加者数のアナウンスはないが,全体セッションの埋まり方から見て昨年と
同数程度と思われる.日本からの参加者も30名を越えているようであるが,
昨年よりもやや少なくなっているようである.特にATE関係者が減少した.
台湾,韓国などアジアからの参加者も減っているように思われる.地元米国
からの参加者数に大きな変化はなさそうに思われる.

展示会には91社が登録しており,昨年よりも件数は増加している.しかし,
各社の面積が減少しており,大手のDAベンダであってもより小さなブースを
占めている.

本年の本学会のスポンサー企業は以下の通りである.
Diamond: Optimal Test
Platinum: ADVANTEST, Mentor Graphics
Gold: HILEVEL, Test Advantage, TSSI, Verigy
Silver: credence

本日(28日)開催のレセプションの人出は昨年の5割増しと思われる.もし
かしたら企業主催パーティが激減したからかもしれない.

ITC2009は,2009年11月3日-5日,テキサス州オースティンのオースティン・
コンベンションセンタで開催される予定である.
(岩崎一彦)


---【最新技術動向】ITC スペシャルパネル-----------------------------
27日(月)夕方から,下記タイトルのパネル討論が開催された.
Power-Aware DFT - Do we really need it?

テキサスインスツルメンツ社K. Buter氏がモデレータを務め,米国企業から
5名のパネリストが様々な問題提起をおこなった.会場への参加者は約250名
であり,昨年と同様かやや多いように感じられた.

(プライベート・パーティの減少により本来の参加者が戻り,例年以上に真
面目な討論がおこなわれた.)

パネル討論の目的は以下の通りである:テスト時の消費電力がいろいろ問題
を引き起こしていると言われているが本当にそうか.パネリストのポジショ
ン・トークおよび会場からの質問および討論を聞く範囲では,問題ではある
ものの明白な証拠までを押さえていない,あるいは知っていて黙っているよ
うである.
(岩崎一彦)


---【最新技術動向】ITC 基調講演 ------------------------------------
28日(火)午前中のオープニングセッションにおいて,シスコシステムズの
Technology and QualityのVice PresidentであるMike Lydon氏による基調講
演があった.講演タイトルは下記の通りである.

・Managing Test in the End-to-End Mega Supply Chain

高度なネットワーク化によって電子機器に対する要求が多様化し,サプライ
チェーンにおいて迅速かつ高品質な製品の配送が現在の課題であることがま
ず紹介された.シスコにおける取組みとして,サプライヤ,インテグレータ,
および顧客を含むバーチャルサプライチェーンを利用した情報交換に基づく
テストの高品質化について示された.
(新井雅之)


---【最新技術動向】ITC 招待講演(初日)-----------------------------
今回のITCでは,毎日午後に1件ずつ,計3件の招待講演が企画されている.
初日の講演は,カリフォルニア大学バークレー校のJan N. Rabaey教授によ
って,下記のタイトルで行われた.

・Computing at the Crossroads (And What Does it Mean to 
Verification and Test?)

現在のコンピューティング環境は,ブール,チューリング,ノイマンの路線
を越え,多数の機器が複雑に接続されたものへと変化している.このような
環境では,システムの信頼性を確保するためのコストが問題となるため,設
計時の検証と製造時のテストに加え,動作時の検証・テストの重要性が主張
された.また,検証・テストは,システム全体の正常動作を保証するための
ものであり,これは必ずしも全てのコンポーネントが単体で正常に動作する
ことを要求するわけではないことが強調された.
(新井雅之)


---【経済指標】-----------------------------------------------------
SEAJ BBレシオ 8月度 0.95
半導体製造装置協会から転載:http://www.seaj.or.jp/
月次経過:http://www.silicontest.jp/mailmagazine/081028/fig1.htm


編集後記 -----------------------------------------------------------

出国前(月)に成田で両替をしたのですが,この日が現在までのところ円高
のピークのようです.ちょっと得した気分ですが,特にお金を使うような観
光地もないので何となく釈然としません.

(新井雅之)

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