[2008-11-25]メールマガジン第19号


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STTメールマガジン  2008年11月25日号
発信元 シリコン・テスト・テクノロジーズ株式会社
http://www.silicontest.jp/
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テスト技術略語・ミニ解説集 http://www.silicontest.jp/abbreviations
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--- 目次 -----------------------------------------------------------
●【最新技術動向】DC研究会,D3T,DRV
●【最新技術動向】ATS速報
●【図書紹介】半導体技術の進化
●【経済指標】SEAJ BBレシオ
●【編集後記】


---【最新技術動向】ディペンダブルコンピューティング研究会 ----------
http://www.ieice.org/iss/dc/jpn/

電子情報通信学会のディペンダブルコンピューティング研究会が,2008年10
月20日(月)に東京都千代田区一ツ橋の学術総合センターで開催された.議
題は「ネットワーク環境でのディペンダビリティ」で,約30名の参加者があ
った.

一般論文は5件で,耐故障化階層型ニューラルネットワーク,FPGA上のフォ
ールトトレラント実装,耐故障プロセッサ評価,クォーラムシステムの最適
化,モデル検査などに関する発表があり,活発な討論が行われた.

また,それにつづく招待講演では,日立製作所の金川信康氏によって,本年
6月24日~27日にアラスカ州アンカレッジで開催されたDSN 2008 (The 38th 
Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and 
Networks)の模様が報告された.全般的に,地上での宇宙線によるソフトエ
ラーに関する発表が随所で目立ち,関係者の危機感が感じられたとのこと.

次回は「安全性および一般」を議題として,2008年12月12日(金)に山口県
萩市のサンライフ萩で開催される予定.
(福本 聡)


---【最新技術動向】D3T ---------------------------------------------
http://d3t.tttc-events.org/

ITC2008に引き続き,10月31日および11月1日の2日間,International 
Workshop on Defect and Data Driven Testing (D3T)が開催された.基調講
演,チュートリアル講演,および招待講演を含め計16件の発表と1件のパネ
ルが企画され,約40名が参加した.

本ワークショップは,昨年まではDefect Based Testing Workshop (DBT)と
いう名称であったが,今回より上記に改称となった.Yield and Data 
Analysisと題したセッションがあった他,アウトライア選別に関するチュー
トリアル講演や,Challenges in Test Data Collection & Analysisと題し
たパネルがあった.微小遅延やブリッジ,IDDQなどの欠陥モデルに関する話
題が多かった昨年以前から方向性を変化させようという意気込みが感じられ
た.なお,残念ながら恒例のワークショップTシャツ配布はなかった.
(新井雅之)

---【最新技術動向】DRV ---------------------------------------------
http://obaldia.imag.fr/drvw/

ITC2008に引き続き,2008年10月31日,同11月1日,サンタクララ・コンベン
ションセンターにおいて第1回Workshop on Design for Reliability and 
Variability DRV)が開催された.ディープサブミクロン半導体の信頼性と
バラツキに関する討論を目的としたワークショップである.

参加者数は30名を越える程度でありやや寂しいスタートであった.また,
General Co-ChairのY.Z.氏も姿を見せず残念であった.テクニカルセッショ
ンの議論はやや盛り上がりに欠けるものであったが,2日午前のパネルセッ
ションは盛況であった.スタンフォード大学Mitra先生の司会に負うもので
ある.パネルの詳しい内容は下記日経Tech-On/ITC2008スペシャル・レポー
トを参照されたい.
http://techon.nikkeibp.co.jp/NEWS/ITC2008/

(岩崎一彦)


---【最新技術動向】ATS 概要-----------------------------------------
http://ats08.info.hiroshima-cu.ac.jp/

11月24日(月)から同27日までの予定で,ATS  (Asian Test Symposium)が
開催されている.開催地は札幌市の京王プラザホテルである.24日にはチュ
ートリアルが開催され,24日(月)に全体セッション,引き続き25日から27
日までが技術セッション,パネル,レクチャ,企業からのプレゼンテーショ
ン,ポスタ,27日午後と28日にワークショップWRTLTが開催される.

技術セッションの国別機関別内訳を下記に示す.
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/081125/fig2.htm

主催者からの配布資料によると事前の会議登録者数は約160名である.国別
内訳は,日本83名,米国27名,台湾23名,中国11名,フランス6名,インド5
名,マレーシア4名等々である.

セッションの構成の面からは次の特徴がみられる.一つは,低消費電力に関
して3セッション(7B,9A,10A)組まれていることである.テスト時の消費
電力低減が大きな注目を集めている.また,特別セッションとして企業にお
けるアナログテストに関するもの(5B,6B)が企画されている.パネル討論
のタイトルは下記の通りであり,歩留り診断に関して熱い討論が期待される.
How to Increase the Effectiveness of Yield Diagnostics

来年のATSは,2009年11月23日-26日,Taichung,Taiwanで開催される予定で
ある.

京王プラザホテル:
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/081125/hotel.htm
大通公園の夜景:
http://www.silicontest.jp/mailmagazine/081125/park.htm
市内に雪は見られないが,大通公園には残っている.
(岩崎一彦)


---【最新技術動向】ATS 基調講演,招待講演 --------------------------
11月25日午前,ATSのオープニングセッションでは2件の基調講演があった.
1件目は米国ナショナルセミコンダクタ社のBrian Stevens氏による下記タイ
トルの講演である.
The Value of Extending Test Solutions
アナログデバイスの開発を事例として,製品開発サイクル全体の改善に与え
るテスト技術改善の重要性が示された.

2件目の講演は,日立製作所の内山邦男氏によって,下記タイトルで行われ
た.
Architectural Evolution and Test Requirements in 
Digital-Convergence Era
動作周波数の改善が困難になりつつある中でのプロセッサの高速化技術とし
て,複数のコアと並列化コンパイラによる並列化技術が紹介され,このマル
チコアアーキテクチャのための低消費電力化やテスト手法について示された.

オープニングセッションに引き続き,2件の招待講演があった.1件目は米国
メンターグラフィックス社のBrady Benware氏による下記タイトルの発表で
ある.
The Role of DFT in Yield
微細化によって歩留り解析や故障解析が困難となりつつある現状がまず示さ
れ,DFT技術を効果的に用いた歩留り改善について紹介された.

2件目の招待講演は東京大学VDECセンター長の浅田邦博教授による下記タイ
トルの発表である.
Issues and New Scenario for Deep Sub-micron LSI Design and Testing
微細化および複雑化によって出荷前のテストによる信頼性の確保が不可能に
なりつつある現状を踏まえ,設計とテストの協調に基づいて回路の正常動作
を保証する新たなシナリオについて提示された.
(新井雅之)


---【図書紹介】半導体技術の進化 ------------------------------------
編著者:戸所義博
書名:半導体技術の進化 - イノベーションから実用化まで
出版社:日本半導体製造装置協会,SEMIジャパン,3000円(税込)

第1章 イントロダクション(戸所義博)
第2章 デバイス技術(増原利明)
第3章 イオン注入技術(布施玄秀)
第4章 酸化・拡散・成膜技術(梅田浩司)
第5章 リソグラフィ技術(岡崎信次)
第6章 多層配線技術(依田孝)
第7章 平坦化CMP技術(近藤誠一)
第8章 アセンブリ・パッケージ技術(加藤凡典)
第9章 テスト技術(甲田幸義)

2007年に開催されたISTF(Industry Strategy and TechnologyForum)の下
記パネル討論をベースに編集されている.各ページの上半分がスライド,下
半分が説明文となっており,見易い構成である.
題目:主要な半導体技術イノベーション:研究から実用化まで

テスト技術に関しては株式会社ルネサステクノロジ甲田幸義氏が執筆を担当
している.下記項目に関して技術の大きな流れが分かり易く,同時に読み易
く解説されている.
ATE,DFT,スキャン,BIST,リペア,コンタクト,エージング,テスト効率
向上

更に詳しくは,各種専門書あるいは弊社DFTセミナを参考にされたい.
http://www.silicontest.jp/
http://www.silicontest.jp/seminar/

アマゾンでは購入できません.直接下記へ申し込んで下さい.
http://www.seaj.or.jp/publication/other/evolution.html

(岩崎一彦)


---【経済指標】-----------------------------------------------------
SEAJ BBレシオ 10月度 0.81
半導体製造装置協会から転載:http://www.seaj.or.jp/
月次経過:http://www.silicontest.jp/mailmagazine/081125/fig1.htm


編集後記 -----------------------------------------------------------
大掃除のシーズンです.ずぼらな私は普段の掃除が手抜きになりがち.大掃
除こそは!と思うのですが,今年も望み薄です.そんなとき見つけたのがこ
のサイト.
http://jajatom.moo.jp/nikki2/log/soujirobo02/soujirobo02.html
ぜひ日本のメーカに「世界初、大掃除モード搭載お掃除ロボット」を開発し
てほしいところです.

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